菲希爾公司/測(cè)試儀器
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說(shuō)明】
菲希爾公司/測(cè)試儀器
可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量,避免直接接觸或破壞被測(cè)物。
薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置,可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。此外,適用于無(wú)鉛焊錫的應(yīng)用。
備有250種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
菲希爾XDL|XDLM|XUL|XULM系列熒光金屬鍍層測(cè)量?jī)x, X-Ray鍍層測(cè)厚儀:
fischer XDL 應(yīng)用測(cè)量從機(jī)械部件到電路板各種樣品的經(jīng)濟(jì)型機(jī)種
fischer XUL 系列 XUL|XULM|XDLM應(yīng)用范圍較廣的標(biāo)準(zhǔn)型鍍層測(cè)量?jī)x
fischer XDVM系列實(shí)現(xiàn)了超微小面積,高精度測(cè)理的高功率鍍層測(cè)量?jī)x
fischer XDV XAN 系列 可滿足所有鍍層厚度測(cè)量需求的雙檢測(cè)器型鍍層測(cè)量?jī)x
fischer XAN 系列 XAN120|XAN150|合適微小樣品的膜厚測(cè)量與RoHs分析的高精度X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
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