X-RAY膜厚儀/膜厚測厚儀設(shè)備遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497標(biāo)準(zhǔn)，主要基于WinFTM? V6L核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。X-RAY膜厚儀/膜厚測厚儀測量準(zhǔn)確，使用安全簡便，堅固耐用節(jié)省維護(hù)費用。而且，它符合標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統(tǒng)能達(dá)到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定。典型的應(yīng)用範(fàn)圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。
應(yīng)用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領(lǐng)域.讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造zui大的價值是金東霖追求的目標(biāo)，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖,有需要的朋友請 王生:133 1655 7996