ME系列PCBTDR特性阻抗測(cè)試儀基于時(shí)域反射原理，采用真差分寬帶取樣技術(shù)，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的高帶寬特性阻抗測(cè)試分析設(shè)備。能夠自動(dòng)、快速、批量、準(zhǔn)確測(cè)試線(xiàn)路板及電線(xiàn)電纜的特性阻抗，具備波形顯示與分析，適用于PCB硬板，F(xiàn)