不僅做動態(tài)老化，還具備DUT（受測器件：DeviceUnderTest）的輸出信號監(jiān)視功能。用這個功能對DUT的動作進(jìn)行監(jiān)視，防止篩選漏網(wǎng)，主要試驗(yàn)對象為SDRAM，SRAM等內(nèi)存類。