ARL QUANT^, X    X射線熒光光譜儀

能量色散型X射線熒光光譜儀

提高元素分析的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

X射線熒光光譜儀大氣顆粒物分析 ? 金屬、貴金屬、合金   ? RoHS 和 WEEE 篩選石油 ? 各種油品、過(guò)濾介質(zhì)、添加 劑和發(fā)動(dòng)機(jī)磨損金屬分析 ?  水泥、陶瓷、化肥 ? 原料和替代燃料 ? 冶金、礦渣及礦石 ? 考古和文 物修復(fù)、寶石學(xué)、金屬飾品 ? 聚合物、催化劑、半導(dǎo)體和磁性介質(zhì)材料 ?

建立在經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上

X射線熒光光譜儀作為 EDXRF參考，ARL QUANT'X   以來(lái)，ARL QUANT'X采用多種 技術(shù)來(lái)推動(dòng)EDXRF 性能 及 發(fā)展。ARL QUANT' 推出了 一臺(tái)Peltier電制冷Si(Li)探測(cè)器，該臺(tái)式EDXRF現(xiàn)已發(fā)展成為 一款多功能緊湊型高性能能譜。它是一代硅漂移 探測(cè)器 (SDD)，耦合到快速 CMOS ASIC 前置放大器，兼具 高計(jì)數(shù)率和高分辨率特性。較大的探測(cè)器晶體區(qū)域可確保 大的立體角，從而 限度捕獲由樣品產(chǎn)生的 X 射線。 即 使在分析小樣品或使用低至 1 mm 的準(zhǔn)直器面罩時(shí)，50 瓦 特的大功率 X 射線管也能實(shí)現(xiàn) 激發(fā)。通過(guò)9個(gè)濾光片組 合，可以輕松找到激發(fā)條件。 ARL QUANT'X 支持在空 氣、氦氣和真空中進(jìn)行分析，從而確保各類樣品（無(wú)論液體、松散粉末或固體）均可實(shí)現(xiàn) 輕元素分析。

 提高性能 

 X射線熒光光譜儀與上一代產(chǎn)品相比，  ARL QUANT'X 結(jié)合了 的電 子器件、 探測(cè)器、增強(qiáng)的 X 射線管以及優(yōu)化的幾何結(jié) 構(gòu)， 提高了靈敏度。如果要測(cè)定微量元素，除了需要提 升靈敏度之外，光譜純度也同樣重要。 ARL QUANT'X 經(jīng) 過(guò) 設(shè)計(jì)，可消除探測(cè)器電子器件、分析室、光學(xué)器件和 X 射線管產(chǎn)生的所有雜散干擾。 ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀通常以高于 200 Kcps 的 輸入計(jì)數(shù)率運(yùn)行，同時(shí)在 Mn Kα 條件下保持優(yōu)于 140 eV FWHM 的 分辨率在較短測(cè)量時(shí)間下依然可以獲得 計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，從而獲得 分析結(jié)果。

除提升性能外，ARL QUANT'X 還具有體積小的優(yōu)勢(shì)，適用于任何實(shí)驗(yàn)室。只需要一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電源插座和氦氣（當(dāng)需要該 氣體時(shí)）即可使用。 在儀器接通電源幾分鐘后，Peltier 冷卻 SDD 即可運(yùn)行，儀器即進(jìn)入工作狀態(tài)，關(guān)機(jī)無(wú)需等待。

安全至上

使用 X 射線時(shí)，安全至關(guān)重要。在 ARL QUANT' X 上，通過(guò)基于互鎖的自動(dòng)防故障電路設(shè)計(jì)和在 X 射線打開(kāi)時(shí)顯示 的清晰警告標(biāo)志來(lái)保證安全。在各次測(cè)量之間以及當(dāng)室蓋 打開(kāi)時(shí)，X 射線管會(huì)關(guān)閉，從而進(jìn)一步增強(qiáng)操作員的安 全。

增強(qiáng)型分析軟件

X射線熒光光譜儀 WinTrace 分析軟件在 Windows 10 下運(yùn)行，基于 研究實(shí)踐和 經(jīng)驗(yàn)的 算法，讓EDXRF分析 變得  靈活。該軟件可針對(duì)任何樣品中任何數(shù)量的分析物 收集和處理多達(dá) 9 個(gè)濾光后的光譜。分析程序具有多種算 法，可校準(zhǔn)所需任意數(shù)量的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品（一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)品即能進(jìn) 行校準(zhǔn)）。收集光譜后，可隨時(shí)重新處理和脫機(jī)計(jì)算光譜。自 動(dòng)化 X 射線功率調(diào)節(jié)功能可保證所有樣品 。

簡(jiǎn)單且用戶友好的界面 

X射線熒光光譜儀在數(shù)字世界中， 如果沒(méi)有可以充分發(fā) 揮其功能的靈活軟件，它也會(huì)受到限制。Method Explorer（ 方法管理器）界面為 用戶提供每個(gè)參數(shù)的訪問(wèn)權(quán)限，允許他們?cè)谌魏螒?yīng)用中針對(duì)關(guān)注元素選擇 測(cè)試通量、或者靈敏度的分析條件。只需單擊元素周期表，即可添加或刪除分析元素。使用樹(shù)形界面方便查看校準(zhǔn)和分析結(jié)果。 通過(guò)已有方法文件可快速建立自己的方法。使用標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù) 可集中管理參考物質(zhì)、標(biāo)準(zhǔn)樣品的所有數(shù)據(jù)。

雖然全面控制和微調(diào)功能對(duì)于光譜儀十分重要，但是速度和 易用性在行業(yè)環(huán)境中 也關(guān)鍵。WinTrace 允許使用預(yù)先加

載的目標(biāo)方法設(shè)置快捷方式。操作員只需輸入樣品名稱，然 后單擊即可進(jìn)行測(cè)量。在測(cè)量后，光譜圖和分析結(jié)果將自動(dòng) 保存到方法中。用戶可方便地將所有分析數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在一個(gè)位 置。

光譜計(jì)算

X射線熒光光譜儀對(duì)于任何定量分析，個(gè)關(guān)鍵步驟是從光譜中 提取峰 值強(qiáng)度。 去卷積算法允許從包含許多元素分析線的復(fù)雜 光譜中正確提取凈峰值強(qiáng)度。并能自動(dòng)處理逃逸峰及和峰。 預(yù)定義的設(shè)置適用于大多數(shù)應(yīng)用，并且可以輕松進(jìn)行自定 義 

元素分析和鍍層分析

X射線熒光光譜儀WinTace 軟件提供一系列分析算法，可處理任何類型的樣 品，無(wú)論樣品是固體、粉末還是涂層。如果分析的元素?cái)?shù)量 有限并且有足夠可用的標(biāo)準(zhǔn)品，經(jīng)驗(yàn)算法即得到結(jié)果 基本參數(shù) (FP) 算法可用于任意數(shù)量的元素、標(biāo)準(zhǔn)品和激發(fā) 條件的校正。FP厚度分析模塊 可測(cè)量六層（包含任意數(shù) 量的元素）的厚度、質(zhì)量和組成。也可以脫機(jī)重新計(jì)算所有 等式，從而輕松實(shí)現(xiàn)方法 。

受密碼控制的訪問(wèn)級(jí)別

校準(zhǔn)方法具有密碼保護(hù)選項(xiàng)，防止操作員在使用該方法時(shí)意 外更改校準(zhǔn)參數(shù)或有用數(shù)據(jù)。WinTrace 還提供不同的用戶 級(jí)別權(quán)限，入門級(jí)模式允許用戶在短時(shí)間培訓(xùn)下能夠快速完 成樣品分析，而 模式則允許用戶管理員 控制儀器及其校準(zhǔn)參數(shù)。

數(shù)據(jù)傳輸

X射線熒光光譜儀通過(guò)  TRACEcom 軟件包，WinTrace 可輕松與 LIMS 交互，從而支持以用戶可選格式共享分析數(shù)據(jù)。該功能有助 于將 ARL QUANT' X EDXRF 光譜儀集成到自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)室

中。

多語(yǔ)言

X射線熒光光譜儀使用已翻譯成您本國(guó)語(yǔ)言的軟件時(shí)，總會(huì)感到更加簡(jiǎn)單。 現(xiàn) 在，可按多種內(nèi)置語(yǔ)言配置用于 ARL QUANT'X EDXRF 的 WinTrace。

 無(wú)標(biāo)樣分析技術(shù)

賽默飛世爾科技公司的綜合性半定量無(wú)標(biāo)樣分析方法稱為 UniQuant，它利用所有過(guò)濾片和預(yù)設(shè)激發(fā)條件設(shè)置對(duì)氟到 鈾的所有元素實(shí)現(xiàn) 測(cè)量。，并且可在無(wú)用戶干預(yù)或優(yōu)化

的情況下生成任何未知樣品的 曲線。樣品的完整光譜曲 線使UniQuant 能夠?qū)λ锌赡艿闹丿B和背景效應(yīng)自動(dòng)進(jìn)行 校正，而這在能量色散光譜的定量分析中 復(fù)雜。

? 分析所有元素

? 在計(jì)算中包括每個(gè)樣品的物理性質(zhì)，即面積、高度和 質(zhì)量

? 空氣或氦氣以及樣品杯膜吸收和雜質(zhì)均得到校正

? 使用漂移校正樣品對(duì)X射線管的長(zhǎng)期穩(wěn)定性進(jìn)行監(jiān)控

? 多種可選擇的報(bào)告級(jí)別和格式可為各類用戶提供清晰結(jié)果

多功能樣品室

批量分析樣品，提高生產(chǎn)效率，并通過(guò)大樣品室和多種送樣 選配裝置擴(kuò)展EDXRF的分析通量。模塊化儀器設(shè)計(jì)允許在 應(yīng)用發(fā)生更改時(shí)輕松添加或刪除任何樣品處理選項(xiàng)。

自動(dòng)進(jìn)樣器有助于提高生產(chǎn)效率

自動(dòng)化的 10 位和 20 位樣品轉(zhuǎn)盤可批量分析標(biāo)準(zhǔn)的液體樣 品杯、粉末壓片、氣溶膠和濾膜。 支持外徑為 31 mm 的樣品 杯，以及 外徑為 51.5 mm 的鋼環(huán)。

氣體選擇

得益于樣品和探測(cè)器之間的緊密耦合，即使是在空氣條件 下。仍可檢測(cè)輕元素。真空有助于提高固體中輕元素的靈敏 度，而氦氣環(huán)境則適用于液體樣品。 惰性氣體可用于腐蝕性 材料或不穩(wěn)定的材料的分析，考慮這種情況，我們?cè)跇悠贩?nbsp;析室使用了耐化學(xué)腐蝕材料。

適用于大型樣品

單樣品托盤和大樣品臺(tái)可接受異形、較大且不規(guī)則的樣品， 大尺寸分析室足夠容納這類樣品。

分析室擴(kuò)展 

對(duì)于體積 大的樣品，例如氣缸體、防塵罩、渦輪碎片、汽車 零部件以及高達(dá) 36 cm（14.2 英寸）的任何樣品，也可以通 過(guò)可選的分析室擴(kuò)展進(jìn)行分析，而無(wú)需額外的工作或準(zhǔn)備。

1位和10位樣品轉(zhuǎn)換器可配備樣品旋轉(zhuǎn)器，以進(jìn)一步降低分 析誤差。在分析輕元素時(shí)，樣品旋轉(zhuǎn)尤其重要，對(duì)于這些元 素，將從樣品表面的幾個(gè)原子層生成X射線信息。

分析小樣品或小于1mm的小斑點(diǎn) 

可以在15mm至1mm的范圍內(nèi)調(diào)整光束尺寸，以便進(jìn)行快速 篩選，方便研究和調(diào)查工作。 這適用于分析較小樣品或樣品的特定區(qū)域或斑點(diǎn)

在分析過(guò)程中觀察樣品

通過(guò)用于樣品成像的 CCD 相機(jī)和可調(diào)節(jié)的 X 射線束直 徑，ARL QUANT'X 允許您選擇需要分析的樣品部位