?BC3193半導體分立器件測試系統(tǒng)是半導體參數測試的設備,?用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測，各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門進行入廠檢驗、可靠性分析測試。

??????? 測試原理符合《GJB 128?半導體分立器件試驗方法》、《GJB 33A-97?半導體分立器件總規(guī)范》《SJ/Z 9014??半導體器件 分立器件》、《SJ 2215.1-82　半導體光耦器測試方法》等相應的國家標準、國家軍用標準。

??????? 系統(tǒng)的人機界面有好，編程容易，軟件能對用戶輸入的數據進行自動查錯。

??????? 系統(tǒng)軟件可進行器件參數的分檔、分類編程，并可實時顯示和記錄分檔、分類測試結果，測試結果和統(tǒng)計結果均可以EXCEL格式存貯于計算機中，根據需要可以打印輸出。

??????? 系統(tǒng)為模塊化、開放式結構，具有升級擴展?jié)撃堋?/p>

系統(tǒng)特點

◆??PC機為系統(tǒng)的主控機

◆??菜單式測試程序編輯軟件操作簡便

◆??預先連接測試自動識別NPN/PNP

◆??0～±2000V程控高壓源

◆??高達±200A程控高流源

◆??測試漏流zui小分辨率達6.1pA

◆??四線開爾文連接保證加載測量的準確

◆??通過IEEE488接口連接校準數字表傳遞國家???計量標準對系統(tǒng)進行校驗

◆? Prober接口、Handler接口可選（16Bin）

◆??可為用戶提供豐富的測試適配器

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測試對象

二極管/整流橋：??? BVR、IR、VF、VZ、RZ

三極管：? BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT

可控硅：??? BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、?????

IH、IL、VGT、VON

場效應管：????? BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS（on）、VDS（on）、VGS、VGS（th）、VP

IGBT：???????? BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS（off）

達林頓矩陣：ICEX、?IIN（ON）、?IIN（Off）、?VIN（on）、?IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO

單結晶體管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2

光敏二、三極管：ID、IL、VOC、?ISC、BV、BVCE

光????耦：?????? CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR?（加時間測量選件Tr、Tf、Toff、Ton）

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測試系統(tǒng)軟件

菜單式測試程序編輯軟件；診斷軟件；校準軟件